岱美拿到采购Filmetrics-F30在线测试膜厚及沉淀速率设备的订单

美国Filmetrics公司生产的薄膜厚度测量仪利用光谱反射的原理，测量精度达到埃级的分辩率,测量快，操作简单及最具性价比的薄膜厚度测量设备。设备测量范围从近红外到紫外线，波长范围从215nm到1700nm，测量厚度从10A到350um范围。凡是光滑的，透明或半透明的，或是对光有吸收的膜层都可以测量。

同时我们根据相关科研前沿的客户相关需求，开发研制了F30系列，主要应用于相关的在线薄膜厚度实时测试及相关设备动态沉淀速率的动态实时检测，此设备可实现多波段检测及客户感兴趣的任意单一波段实时检测，同时该设备具备其他型号的静态检测功能。