Filmetrics光学膜厚测量仪膜厚测量仪

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	膜厚测量仪	通过FILMETRICS膜厚测量仪最新反射式光谱测量技术,最多4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如 :半导体工业 : 光阻、氧化物、氮化物。LCD工业 : 间距 (Cell gaps)，ITO电极、Polyimide 保护膜。光电镀膜应用 : 硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。

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